脈沖式線圈測試儀（即數(shù)字式匝間儀）可的、非破壞

性的對有線圈繞組的部件進行電氣試驗。其原理是對標準線圈繞組和被測試繞組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態(tài)波形，以測試被測線圈的品質(zhì)。瞬態(tài)波形也就是線圈內(nèi)發(fā)生的衰減振

蕩的波形，他可同時判斷該繞組的電感、品質(zhì)因素、繞組的圈數(shù)差及匝間短路情況，在有鐵芯的情況下，還可以判斷其材質(zhì)的差別等。在施加高壓脈沖的情況下，電暈放電的發(fā)生還可以

對絕緣不良進行判斷。總之，標志線圈品質(zhì)的各個要素，可以在極短時間內(nèi)檢查完成。

脈沖式線圈測試儀，采用技術(shù)的高穩(wěn)定性高壓沖擊電源，大幅提高了儀器測試準確度。儀器通過微型計算機技術(shù)把波形的各種參數(shù)量化處理，再用直觀的波形進行顯示和判斷，操作簡單，判斷準確，自動化程度高。該儀器體積小，重量輕，便于攜帶。沖擊波形實例：

圖1.1-1線圈衰減振蕩波形分析

???采用技術(shù)的高穩(wěn)定性高壓沖擊電源和可控硅模塊控制的高壓開關(guān)器件，大幅度提高了產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性。（*避免了*代模擬產(chǎn)品“充氣氫閘管”、“示波管”等造成的穩(wěn)定性差，開機預熱時間長，壽命短，易老化等問題。）

采用先進的數(shù)字信號處理技術(shù)，四種波形比較方法快速判斷線圈品質(zhì)，LCM液晶模塊顯示，人性化操作界面，簡單易學，比較結(jié)果直接顯示，并有多種聲響報警方式可選擇，體積小，重量輕

工作原理

脈沖式線圈測試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對線圈施加一次極短時間的高壓脈沖，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號經(jīng)由CPLD可編程邏輯器件控制的高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,然后反饋至MCU中央信息處理系統(tǒng)進行時間、電暈量、面積、相位等參數(shù)的運算，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存

儲器中，并用直觀易懂的文字、數(shù)據(jù)_________及圖形顯示在240×320點陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現(xiàn)的真實性。并且根據(jù)用戶設定的條件,對合格或不合格者進行報警處理。

線圈質(zhì)量檢查判斷方法

圖1.3.2_1：波形面積比較

在任意的區(qū)間內(nèi)，對標準線圈和被測線圈波形面積進行比較。

如圖1.3.2_1所示，計算出A-B區(qū)間內(nèi)的面積，判定兩者面積相差的程度。判定的標準用百分比（％）進行設定，計算結(jié)果在范圍內(nèi)的為合格品。區(qū)間內(nèi)面積的大小，大體與線圈內(nèi)能量損耗成比例，故能以此判斷能量損耗的大小。

例如被測線圈有匝間短路時，短路部分的反映是能量的損失增大。

圖1.3.2_3：波形電暈量比較

在任意的區(qū)間內(nèi)，對被測線圈的電暈放電量與設定值進行比較。

如圖1.3.2_3所示，基本忽略波形差異，在任意的A-B區(qū)間內(nèi)，僅在被測線圈實測波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進行面積（積分）計算，并將計算結(jié)果與設定值進行比較，判定電暈放電量是否合格。可以認為該量是模擬方式中檢出的通過高頻濾波器的量值。

圖1.3.2_2：波形面積差比較

在任意區(qū)間內(nèi)，對標準線圈和被測線圈波形偏差部分的面積與標準線圈波形面積進行比較。

如圖1.3.2_2 所示，計算出A-B 區(qū)間內(nèi)面積差，對比標準波形（同圖1.3.2_1）判定偏差的程度。

判定的標準用百分比（％）進行設定，結(jié)果在范圍內(nèi)的為合格品。波形偏差面積的大小表示電感值及能量損耗程度的總和。此方法可較全面地檢查線圈的電感L值及能量損失。

圖1.3.2_4：波形相位比較

對標準線圈和被測線圈的波形相位相應過零點（A、B）的差值與設定值進行比較。

如圖1.3.2_4 所示，以的標準波形的過零點A 為基礎，與被測線圈實測波形相應的過零點B相差的點數(shù)作為判定依據(jù)，并將計算結(jié)果與設定值進行比較，判定波形相位是否合格。由于波形相位與線圈的電感L密切相關(guān)，此方法可偏重于檢查線圈的電感L值。
脈沖式匝間絕緣耐壓測試儀、數(shù)字式匝間測試儀